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1.技術指標： |
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1. |
X射線管：專用薄鈹窗側窗X光管(Mo靶，最大功率50W) |
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2. |
高壓電源：50KV,1mA |
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3. |
分析元素種類： 金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳、銠、鋨、銥等 |
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4. |
探 測 器：電制冷Si-PIN探測器 |
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5. |
濾 光 片：八種新型濾光片自動選擇 |
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6. |
照射直徑：2mm、5mm |
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7. |
樣品類型：固體/粉末/液體 |
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8. |
單個樣品測量時間：60-300S（可選） |
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9. |
樣品觀察：130萬像素彩色CCD |
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10. |
分析精度：0.05%（98%以上） |
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11. |
分析范圍：1ppm-99.9% |
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12. |
工作溫度：15～30℃ 相對濕度30～85%(不結露) |
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13. |
電 源：AC220V～240V，50/60Hz |
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14. |
外型尺寸：640(W)*474(D)*412(H)mm |
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15. |
儀器重量：約48kg |
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2.2隨機標準附件： |
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1. |
操作說明書 |
1 |
冊 |
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2. |
P4計算機、19寸液晶顯示器 |
1 |
臺 |
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3. |
打印機（彩色噴墨打印機） |
1 |
臺 |
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4. |
測試用樣品杯 |
2 |
個 |
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5. |
銀校正標樣 |
1 |
片 |
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2.3軟件可實現功能： |
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1. |
檢測金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳、銠、鋨、銥等貴金屬，一次可同時分析多種元素 |
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2. |
自動生成人性化測試報告 |
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備 注 |
儀器技術指標、性能和部分功能、外形、顏色如有改變，恕不另行通知，敬請諒解。 |
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三、儀器硬件主體配置
3.1 探測系統 |
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類型：電制冷Si-PIN探測器 (采用PIN結構的高性能電致冷半導體探測器) 型號：XR-100CR 制造商：美國Amptek公司生產 |
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3.2 X光管 |
圖 片 |
制 造 商：丹東 電 壓: 0 ~ 50 kV 最大電流: 1.0 mA 最大功率: 50 W 燈絲電壓: 2.0V 燈絲電流: 1.7 A 射線取出角：12° 靶 材：Mo Be窗厚度：0.5mm |
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3.3 高壓電源 |
圖 片 |
生 產 商：美國Spellman公司生產 型號：MNX50P50 輸入電壓: DC 24V±10% 輸入電流：4.0A（最大） 輸出電壓: 0 -50kV 最大功率：50W 8小時穩定性：0.05% |
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3.4 微動平臺與高分辨率CCD |
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載物測試平臺，配有微調裝置，可方便的實現檢測物的定位與檢測區域的調整。 130萬像素的CCD攝像頭，可有效的實時觀察測試區域狀況，并拍下物料照片，作為檢測報告的組成部分。 |
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3.5 大樣品腔 |
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小樣品腔尺寸(閉倉門測試)：300*300*100mm 大樣品腔尺寸(開倉門測試)：無限制，部分取代手持式功能 |
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3.6 散熱系統 |
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高效三維散熱系統，大幅度提供儀器的可靠性、穩定性。 |
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3.7 防輻射安全系統 |
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三重射線防護系統（軟件、硬件、迷宮式設計），開蓋測試自動警示系統。 |
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四、儀器軟件功能及特點 |
1、功能 |
1. 可以對Cl-U元素進行分析； 2. 分析方法：華唯獨創FP法； 3. 分析報告：多種語言格式(簡體中文 繁體中文 英文等)及文檔格式報告，如Excel、PDF等，預設標準模板，用戶還可以自定義模板格式，所有文檔可自由打印和保存； 4. 數據自動保存：所有樣品測試后的數據均會自動保存，測試結果具有可追溯性； 5. 穩定性自檢功能：可即時對儀器當前穩定性進行自動檢測； 6. 操作界面多語種:英語、簡體中文、繁體中文等。 |
2、特點： |
1. 預置貴金屬標準工作曲線，涵蓋金、銀、鉑、鈀、銅等貴金屬及雜質金屬分析； 2. 提供開放式工作曲線平臺，用戶可以自由配置工作曲線以及任意添加標樣數據，以滿足更高測試度的要求及測試元素擴展； 3. 人性化的軟件界面與操作方法，使用獨有圖形顯示技術，既方便又直觀；結合大量操作經驗優化操作步驟，極大方便用戶； 4. 精確的數據處理方式：以基本參數法為依據精確配置的濾光片系統大幅提高峰背比，結合一系列先進的光譜處理方法，極大提高特征譜線的檢出精度，只需采用純元素即可對樣品實現粗略定量分析，再添加少量標樣即可對樣品實現精確分析； 5. 數據管理：由數據庫支持的專業化報表生成、查詢打印、操作員分級授權等功能極大方便企業管理； 6. 完善的安全連鎖功能：配合硬件電路的防護措施，在不安全的操作發生時自動切斷X射線確保操作員不受傷害； 7. 智能化軟件保護，避免不當操作對光譜儀的損傷，延長儀器使用壽命。 |
