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TT220涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介
在國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品中，測(cè)量精度最高（A級(jí)），速度最快，穩(wěn)定性最好。且操作方便，外形美觀。主要測(cè)量金屬表面涂、鍍層的厚度。
本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。配置不同的探頭，適用于不同場(chǎng)合。它是無(wú)損檢測(cè)行業(yè)的必備儀器。
TT220涂層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)
●兩種工作方式：直接方式和成組方式轉(zhuǎn)換
●兩種測(cè)量方式：?jiǎn)未螠y(cè)量和連續(xù)測(cè)量（大面積內(nèi)快速獲取讀數(shù)）轉(zhuǎn)換公、英制轉(zhuǎn)換
●開(kāi)機(jī)后顯示最后一個(gè)讀數(shù)
●背景照明（可選擇）
●聲音提示數(shù)據(jù)已讀取
●可設(shè)置數(shù)據(jù)的測(cè)量范圍，聲音提示數(shù)據(jù)超出允許的測(cè)量范圍
●具有測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
●具有測(cè)量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
●具有測(cè)量數(shù)據(jù)的刪除功能（刪除當(dāng)前測(cè)量值，刪除當(dāng)前組測(cè)量數(shù)據(jù)，刪除當(dāng)前組所有數(shù)據(jù)）
●可存儲(chǔ)5組數(shù)據(jù)，每組100個(gè)，共500個(gè)數(shù)據(jù)
●全中文菜單
●多種校準(zhǔn)方式
●具有手動(dòng)和自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、探頭（N1）、基體、試塊、5試片（50µm、100µm、200µm、500、1000µm）、9V堿性電池
TT220涂層測(cè)厚儀 選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
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探頭 |
F400 |
F1 |
F1/90 |
F10 |
N400 |
N1 |
CON2 | |||||
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測(cè)量原理 |
磁性 |
渦流 |
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測(cè)量范圍（μm） |
0～400 |
0～1250 |
0～10mm |
0～400 |
0～12500 |
10～200 | ||||||
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測(cè)量精度μm |
一點(diǎn)校準(zhǔn) |
±[(1～3)%H+0.7] |
±（3%H+1） |
±（3%H+10） |
±（3%H+1） |
±（3%H+1.5） |
±(3%H+1) | |||||
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二點(diǎn)校準(zhǔn) |
±（1～3％H+0.7） |
±[(1~3)%H+1] |
±[(1～3)%H+10] |
±[(1～3)%H+1] |
±[(1～3)%H+1.5] |
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低限分辨率 |
0.1 |
0.1 |
1 |
0.1 |
0.1 |
1 | ||||||
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最小曲率半徑(mm) |
(凸)1 |
1.5 |
平直 |
10 |
1.5 |
3 |
僅為平面 | |||||
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最小面積直徑(mm) |
￠3 |
￠7 |
￠40 |
￠4 |
￠5 |
￠7 | ||||||
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基本臨界厚度(mm) |
0.2 |
0.5 |
2 |
0.3 |
0.3 |
無(wú)限制 | ||||||
TT220涂層測(cè)厚儀 測(cè)頭選用參考表
覆蓋層基體 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等） 非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm 覆蓋層厚度超過(guò)100μm 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm 覆蓋層厚度超過(guò)100μm 如鐵、鋼等磁性金屬 被測(cè)面積直徑大于30mm F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 被測(cè)面積直徑小于30mm F400型測(cè)頭0～400μm F400型測(cè)頭0～400μm F400型測(cè)頭0～400μm F400型測(cè)頭0～400μm 如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 被測(cè)面積直徑大于10mm N1型測(cè)頭0～1250μm 僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm 被測(cè)面積直徑大于10mm N400測(cè)頭0～400μm N400測(cè)頭0～40μm 塑料、印刷線路非金屬基體 被測(cè)面積直徑大于7mm -- --<, /SPAN> CN02型測(cè)頭10～200μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
0～1250μm
F10型測(cè)頭
0～10μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
0～1250μm
F10型測(cè)頭
0～10μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
N400測(cè)頭0～400μm
