湖北武漢十堰宜昌襄陽黃石納米/Zeta電位分析儀Zetatrac

產品價格：	0/人民幣
最后更新：	2012-11-02 09:08:54
產品產地：	本地
發貨地：	湖北武漢 (發貨期：當天內發貨)
供應數量：	不限
有效期：	長期有效
最少起訂：	1
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公司基本資料信息

武漢頓杰測量儀器有限公司
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地址湖北省武漢經濟技術開發區新都國際C座二單元602室

產品詳細說明

技術參數
粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米
Zeta 電位測量：+/- 5mv
電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm
重復性：誤差小于1%（標準顆粒）
測量原理：動態光背散射技術及米氏理論
專利技術：HDF，CRM，FFT，“Ｙ”型光纖光路設計，“非球形”顆粒校正選項，微電場設計技術
檢測角度：180º
濃度范圍：0.1ppm – 40wt%
分析時間：30-120 秒
光源：3mW 780nm 半導體光纖
樣品體積：0.2ml
操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等
國際標準：ISO 13321
環境溫度：10ºC to 35ºC
相對濕度：小于90%

主要特點
﹡ 專利的異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術，比較傳統的多譜勒頻
移分析方法，獲得顆粒散射信號的強度高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性
﹡ 專利的可控參比方法(CRM, Controlled Reference Method)，能精細分析多譜勒頻移產生的能
譜，確保分析的靈敏度
﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，避免了多重散射現象，保證高濃度溶液中納米顆粒測
試的準確性
﹡ 先進的“Y型”光纖光路系統，精確聚焦藍寶石測量窗口，有效消除雜散光對檢測器的負面影響

﹡ 專利的快速傅利葉變換算法(FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method)，迅速處理檢
測系統獲得的光譜，縮短分析時間
﹡ 首家引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因素，內置常用分析物質光學數據庫，提
高顆粒粒度分布測試的準確性
﹡ 符合甚至部分超過ISO 13321 激光粒度分析國際標準－納米分析部分
﹡ 符合甚至部分超過21 CFR PART 11 安全要求及FDA標準

儀器介紹
30多年來，Microtrac 公司一直致力于激光散射技術在顆粒粒度分布中的應用。作為行業的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA首次引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生的能譜概念，利用<br>背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(Heterodyne Doppler Frequency Shifts)技術</br>，結合動態光散射理論和先進的數學處理模型，取代傳統的光子相關光譜(PCS,Photon Correlation Spectroscopy)方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術的發展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專業顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現實，成為眾多行業納米分析的參考儀器。
<b>應用領域：</b>
有機聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無機物，結晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。

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