CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀--國(guó)產(chǎn)

一、CH－1－S型薄膜測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介
    本測(cè)厚議適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
二、技術(shù)指標(biāo)
    量    程：0-1mm　
    分 度 值：0.001mm
    上測(cè)頭曲率半徑：15-50mm
    測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我：0.1-0.5N
    測(cè)量精度：100vm以內(nèi)＜1vm 
                     100-250vm＜2vm 
                     250vm＜3vm