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| 品牌：GE | 加工定制：否 | 型號：G20MN… | ||||
| 類型：特殊應用場地 | 測量范圍：0.5 mm | 顯示方式：數顯 | ||||
| 電源電壓：12 V |
| 特殊探頭 | 能為您解決特殊檢測問題 |
| ① RB…,MRB…型 | 用于管道周向檢測的斜探頭，能夠同時從兩個周向檢測管道的。Lemo00接頭。 |
| ② IR…型 | 從管道內部檢測缺陷或測量厚度。 |
| ③ Z4R6X6/6X | 多晶片探頭—4MHz，6個6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線。我們也能提供其他頻率，晶片尺寸和晶片數量的探頭，相應的多晶片斜探頭可以用來檢測橫向缺陷。 |
| ④ IALF10…型 |
1 0 M H z水浸探頭，園柱曲面，晶片寬3 0 m m ， 由P V D F 材料制成， 帶1 . 5 m Lemo1接口探頭線。可提供其他頻率和晶片尺寸的探頭。 |
| 鐵軌檢測 |
注釋: SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測系統自動檢測。用于坯餅檢測時請參 考第6頁，板坯檢測。關于其他的檢測問題，請聯系我們的*技術人員。 |
| ① SESZS…型 | 4MHz雙晶直探頭， 0.95m探頭線，Lemo接頭。 |
| ② SESZW…型 | 雙晶斜探頭，聲束同時向前，向后70º入射，2MHz，帶0.75m探頭線，Lemo1接頭。 |
| ③ WB45-01型 | 45º斜探頭，1MHz，頂端帶Lemo1接頭；套在夾具上組成前后串聯式檢測鐵軌。 |
| 用于軸承和輪軸 |
注釋: 對于粗晶材料(由于晶粒散射而導致信噪比差)，請參照第1 5頁“粗晶結構材料的檢測”。關于特大軸承檢測請參照第 6頁“大型部件檢測”。 |
| ① B2S-0A…型 |
1MHz，2MHZ，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm，可更換保護膜。通過不同角度延遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭。頂 部Lemo1接頭。尤其適用于檢測大軸承偏心位置的體積型缺陷。 |
| ② AW…型 | 斜探頭，延遲塊可更換，2MHZ，晶片直徑24mm，Lemo1接頭；適用于橫波探傷，探頭接觸面可與曲面耦合。 |
| ③ ASW…型 | 斜探頭，用橫波檢測輪軸中心孔，帶有2m探頭線，Lemo1插頭一個。 |
| ④ B…S, MB…S | 直探頭，可提供各種頻率，晶片直徑為10mm和24mm，帶延遲塊。B…S型為L emo 1接頭，MB…S探頭為L emo 0 0接頭。 |
| ⑤ Z2GB1, Z4NB5 | 帶延遲塊的縱波斜探頭，專為電梯軸承檢測設計，與Lemo 00插頭匹配。 |
| 用于板坯 | |
| ① SEZ4R10…型 | 雙晶4MHz探頭，聲束寬度約為50mm，由一個發射晶片和3個接收晶片組成，一根探頭線，帶有4個Lemo1接頭。 |
| ② B…S-O型 | 提供各種頻率的直探頭， 可更換保護膜，頂部Lemo1接頭。例如用于檢測平板輥筒。 |
| ③ SEZ4N30V，SEB4TV型 | 4MHz雙晶探頭，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測平板輥筒。 |
| ④ UWB… | 1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可調斜探頭，可以得到縱波和橫波， 配有L e m o 1接口，用于產生蘭姆波。 |
| ⑤ 5Z6X27ND型 | 雙晶5MHZ探頭，聲束寬度約為25mm，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測。 |
| 用于大型部件 | |
| ① NQP…型 |
用于直接接觸法的聚焦直探頭，2 M H Z，晶片直徑3 4 m m，5 0 m m，或75mm，深度越深處，焦點直徑越小， Lemo1接頭。尤其適用于各個方向的相鄰缺陷。 |
| ② WQP…型 | 聚焦斜探頭， 晶片直徑3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深處，焦點直徑越小，Lemo1接頭。 |
| ③ SEB…G型 | 雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接頭。 |
| ④ GRST…型 | 相控陣探頭，聲束焦點和角度可變，可用于自動檢測系統。 |
| 用于特殊形狀工件 | |
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例如飛機零件 ① G…MN，G…KS型 |
多種頻率高分辨率的直探頭， 可更換延遲塊， M i c r o d o t 接頭， G … K S 為L emo 0 0探頭。例如用于渦輪葉片冷卻 壁測量。檢測塑料時， 延遲塊可根據實際使用環境設計， 使延遲塊跟工件完美耦合， 消除界面回波（ 0 界面探頭） 。 |
| ② H…MN…F型 | 高分辨率水浸探頭，多種頻率和晶片直徑可選，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防水L emo 0 3接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測量。 |
| ③ SMWB… | 小晶片斜探頭，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接頭；例如檢測鉚釘孔的裂紋，也可用串聯式技術檢測。 |
| 用于混凝土，石頭，和木材 | |
| ①B0.05N，B0.05U…型 | 直探頭， 5 0 K H Z ， 接觸面3 0 m m 和55mm，信號衰減弱，Lemo1接頭；只能用于穿透式檢測。我們可以提供更高頻率探頭。 |
| ② B0.05NN型 | 直探頭，50KHZ，探頭通過增強桿增強超聲信號，聲束傳播直徑大，Lemo1接頭，只適用于穿透式軟質材料的檢測(如木材）。 |
| ③ K0.1G，K0.25G型 | 100KHZ和250KHZ直探頭，接觸面直徑45mm，阻尼性好，例如脈沖持續時間短，防水Lemo1接頭；在脈沖回波模式可用于精確測量超聲傳播時間。 |
| ④ B…SL，G0.5G型 | 250 kHz，500 kHz，1 MHz直探頭，各種晶片尺寸可選，Lemo1接頭。 |
| 用于陶瓷（如絕緣材料） | |
| ① K…G，K…N 型 | 高分辨率直探頭， 提供各種頻率， 晶片直徑24mm和10mm，耐磨接觸面和Lemo00接頭。 |
| ② IB… | 2MHZ或4MHZ，Lemo00接頭，窄外殼設計使得探頭能進入傘形絕緣體的縫隙中。 |
| ③ IW…B… | 4MHZ 斜探頭，Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點。 |
| 用于簡單復合纖維塑料 | |
| ① G…NS，G…KS型 | 各種頻率沖擊波直探頭， 晶片尺寸可選， 通過螺紋固定保護膜或延遲塊，L emo 0 0接頭。可以根據工件材料設計延遲塊，盡量消除界面波的影響（0界面探頭）。也適用于帶涂層工件的厚度測量 |
| ② CA212，CA214 | 高分辨率直探頭，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接頭，通過螺紋固定保護膜或延遲塊，適用于帶涂層工件的厚度測量。 |
| ③ W70B2GT型 | 70º斜探頭，頻率為2MHZ，Lemo00接頭，適合檢測PE和PVC材料。65º斜探頭可用于檢測大厚度材料，WB 7 0 - 1適合厚度更大的材料。 |
| ④ G…N，G…KB | 各種頻率沖擊波直探頭， 晶片尺寸可選，Lemo00接頭，耐磨接觸面。 |
| 用于點焊檢測 | |
| ① G20MN…型 | 高分辨率直探頭， P V D F 晶片，20MHZ，Microdot接頭和水延遲線，由可更換彈性保護膜密封， 用于點焊檢測；晶片尺寸取決于點焊焊核，可以用15MHZ探頭檢測更大厚度的點焊。更多詳情請看特別版SD272。 |
| 用于精密部件檢測 | |
| ① G…MN型 | 各種頻率沖擊波探頭，晶片直徑可選，Microdot接頭，可更換延遲塊；尤其適用于點焊檢測。 |
| ② H…NA，H…KA，H…MA型 | 各種頻率， 晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭，H…N，H…K帶2.5m探頭線，H…M帶1.5m探頭線，Lemo00接頭；尤其適合厚度測量。 |
| ③H...KP...F, H...MP...F型 | 各種頻率， 晶片尺寸， 焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水L emo 0 3接頭，并附有用于機械自動檢測的噴水耦合噴嘴 |
