MiniTest1100，MiniTest1100涂層測厚儀

產(chǎn)品價(jià)格：	28000/人民幣
最后更新：	2012-08-12 11:38:16
產(chǎn)品產(chǎn)地：	德國
發(fā)貨地：	上海 (發(fā)貨期：當(dāng)天內(nèi)發(fā)貨)
供應(yīng)數(shù)量：	不限
有效期：	長期有效
最少起訂：	1
瀏覽次數(shù)：	261

公司基本資料信息

上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司銷售
程先生先生銷售
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產(chǎn)品詳細(xì)說明

產(chǎn)品特點(diǎn)：

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

技術(shù)參數(shù)

型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))	1	1	10	99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識特性的組數(shù)	-	1	500	500
數(shù)據(jù)總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值	-	-	√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間	-	√	√	√
其他功能
設(shè)置極限值	-	-	√	√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別最大最小值	-	-	√	√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)	-	-	√	√
連續(xù)測量模式中顯示最小值	-	-	√	√

MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)

　　所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
　　F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
　　N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
　　FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	最小曲率半徑	最小測量區(qū)域直徑	最小基體厚度	探頭尺寸 (mm)
磁感應(yīng) 法	F05	0-500um	0.1um	±(1%±0.7um)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62
	F1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62
	F1.6/90	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170
	F2/90	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170
	F3	0-3000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62
	F10	0-10mm	5um	±(1%±10um)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46
	F20	0-20mm	10um	±(1%±10um)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66
	F50	0-50mm	10um	±(3%±50um)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70
兩用	FN1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62
	FN1.6P	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面	30mm	F0.5mm/N50um	φ21x89
	FN2	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62
電渦流法	N02	0-200um	0.1um	±(1%±0.5um)	1/10mm	2mm	50um	φ16x70
	N.08Cr	0-80um	0.1um	±(1%±1um)	2.5mm	2mm	100um	φ15x62
	N1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	2mm	50um	φ15x62
	N1.6/90	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170
	N2	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	50um	φ15x62
	N2/90	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170
	N10	0-10mm	10um	±(1%±25um)	25/100mm	50mm	50um	φ60x50
	N20	0-20mm	10um	±(1%±50um)	25/100mm	70mm	50um	φ65x75
	N100	0-100mm	100um	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50um	φ126x155
	CN02	10-200um	0.2um	±(1%±1um)	平面	7mm	無限制	φ17x80

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

MiniTest涂層測厚儀探頭圖示

	FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度
	FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層
	F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(O.1μm)
	F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭量程低端分辨率很高(O.1μm)
	F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭可用于較厚的覆層
	F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm)
	F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測量
	F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
	N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
	N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
	N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層,尤其適合在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm)
	N2/90 0～2000μm,φ5mm磁性測頭，尤其適合在管內(nèi)壁測量
	N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

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