B1S-O KK探頭 B1S-O GE探頭

美國GE超聲波探傷儀探頭

應用

• 一般檢測目的, 簡單形狀的大零件

• 鍛件, 鑄件

• 板材, 棒材, 方型材

• 容器, 機器零件, 殼體

高溫檢測時帶延遲塊

應用

• 歐款有可更換膜

  -在不平整和曲面上增進耦合

  -在延長探頭壽命

  -適于DGS缺陷評定

  -Lemo1(B,,S)或Lemo 00(MB…S)連接端口，標準為側裝，頂裝可選

• 美款有三種類型的保護：

  -膜可以在不平整和曲面上增進耦合

  -耐磨帽定期更換可無期限延長探頭壽命

  -高溫延遲塊可以實現400度F（200）表面檢測

  -BNC連接端口，頂裝或側裝

帶保護膜探頭-歐洲規格

B 1 S

B 1 S-EN

B 1 S-O

B 2 S

B 2 S-EN

B 2 S-O

B 2 S-O-EN

B 4 S

B 4 S-EN

B 4 S-O

B 4 S-O-EN

B 5 S

MB 2 S

MB 2 S-EN

MB 2 S-O

MB 4 S

MB 4 S-EN

MB 4 S-O

MB 5 S

MB 5 S-O