SEB4KV 德國KK探頭SEB4KV 美國GE探頭SEB4KV

美國GE高溫超聲檢測探頭

對于普通探頭，由于粗晶粒結構所產生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測粗晶材料時要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結果，這主要取決于被檢測材料的聲學特性。我們一直致力于解決這個問題，我們選擇不同焦點的單晶探頭和TR探頭進行實驗，得到檢測粗晶材料的最佳探頭參數。

與此同時，我們得到了奧氏體材料制造商的大力支持。根據我們的經驗和實驗，我們針對各種粗晶粒材料設計了相應的探頭，這些探頭都取得了最佳的效果。此外，這些測試結果還獲得了最佳信噪比，并且所有的粗晶探頭都通過縱波探傷。

技術發展狀況

通過與德國聯邦材料檢測研究所（BAM）合作,最新研制的斜探頭和雙晶探頭可連續工作至250℃。當接觸面溫度升高到250℃以上時，測量后的探頭必需降底溫度。斜探頭允許的最大接觸溫度大約是350℃，但是在如此高的溫度下延遲塊性能會受到一定的影響。此外，雙晶直探頭可以承受的最高接觸溫度大約為800℃。根據溫度的不同，選用的偶合劑也不同:Z G T 可以達到2 5 0℃，而Z G M可以達到550℃。在超過550℃的溫度下，可以用玻璃粉偶合。這些特殊設計的探頭同樣可以在-197℃的低溫下進行測量。

斜探頭

附：探頭電纜線MPKL2-V，編號：65261在150℃，入射角根據溫度的變化而變化。大約是，在45℃下變化為0.260/10℃，在60℃和70℃下變化為0.50/10℃

W45B2GV

W60B2GV

W70B2GV

W45B4GV

W60B4GV

W70B4GV

雙晶直探頭

附：2 x探頭電纜線MPKL2-V，編號：65261

SE B4 KV

超聲探頭高性能硬質陶瓷接觸式直探頭

典型的波寬：75%

K1G

K2G

K4G

K2N

K4N

K5N

K6N

典型的波寬：100%

G1N

G2N

G4N

G2KB

G5KB