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日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列
一種便攜式薄膜厚度計，可以通過麻煩的薄膜厚度測量更輕松地提高生產效率。
QNIx系列產品允許您僅使用超輕巧的緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度，而無需攜帶重型薄膜厚度計。
無線測量無需電纜。除了有助于將測量數據傳輸到個人計算機外，它還有助于防止測量期間發生跌落事故。
無需進行膜校準即可進行精確的膜厚度測量
通過在出廠時輸入16Point校準數據來交付。這樣就無需進行麻煩的薄膜校準工作，并且可以精確測量薄膜厚度。
膜厚測量數據傳輸的新技術
在常規的測量儀器中，通過用電纜連接儀器主體和個人計算機來傳輸測量數據。QNIx系列使用“無線加密gou”，只需將其插入USB端口即可進行傳輸。可以更快，更輕松地查看測量數據。
超輕量無線測量儀
探頭測得的數據無線傳輸到主機。與傳統產品一樣，它也減少了被電纜卡住，阻礙和導致墜落事故的風險。此外，該探頭重30克，重量超輕，因此您不必隨身攜帶沉重的儀器。
難以斷裂且在被測物體上不留痕跡的探針
QNIx系列探頭被增強塑料包圍，可將耐用性提高30％。即使發生故障，也很容易拆卸和維修，從而縮短了維修時間。此外，還附有紅寶石筆尖，因此您可以安全地進行測量而不會損壞要測量的物體（樣品）。
日本電測densoku攜式薄膜厚度計QNIx系列
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QNIx 8500 |
QNIx |
QNIx 7500 |
QNIx Carcheck系統 |
方便的QNIx |
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可測量的電影 |
[F]鐵材料上的非磁性涂層 |
[FN]鐵/非鐵材料上的非磁性/非導電涂層 |
[FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度 |
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材料識別 |
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用戶指定的轉換 |
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鐵/非鐵，自動識別模式轉換 |
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測量原理 |
[F]磁通量（霍爾效應） |
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測量范圍 |
0-2,000μm |
0-3,000微米 |
0-2,000μm |
0-5,000微米 |
0-500微米 |
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最大 |
0.1μm，1μm |
1微米 |
0.1微米 |
0.1微米，1微米 |
5微米 |
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配置格式 |
0點校正 |
0點校正 |
0點校正 |
沒有校準功能 |
沒有校準功能 |
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準確性 |
±（1微米+ 2％） |
±（2微米+ 3％） |
±（1微米+ 3％） |
±（1微米+ 2％） |
±（10微米+ 5％） |
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測量速度 |
1,500ms |
600ms |
1,300ms |
1,500ms |
600ms |
