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日本topcon-techno 2D分光輻射計 SR-5100
2D分光輻射計SR-5100為具有點測定的分光輻射計同等性能，且可以面測定的2D分光輻射計。
2D分光輻射計SR-5100以非破壞?非接觸的方式，測量光源的光譜特性，材料分光穿透率及物體的分光反射率特性，擁有高分辨率（500萬像素）高量程（170億cd/m2） 透過每1nm的分光特性測量，在客戶產品質量維持上做出貢獻。
在極速開發中的Micro/Mini LED顯示屏及相關材料，物質質感，肌膚護理，纖維染織物，景觀等廣泛業種用途上使用。
? 高分辨率500萬像素(2448×2048)的高亮度量程的分光測量(170億cd/m2)。
? 非破壞?非接觸方式，高精度500萬點，分光測量光源光譜特性及材料分光穿透率特性、物體分光反射率特性。
? 單點式分光輻射計同等性能的２維分光輻射計。
? 對可追溯性光源校正，達成高精度的亮度及色度精度保證。
? 裝載分光及XYZ測量模式，發揮各優點的高精度及高速的符合機型。
? 付標配軟件。
? LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及關聯材料等的亮度?色度、分光光譜的評價
? 汽車儀表盤及內外裝照明的發光分布特性、分光光譜的評價
? LED照明、OLED照明的發光部的亮度?色度均勻性、分光光譜均勻性的評價
? 室內及室外的景物的分光光譜的評價
? 纖維染織物的分光光譜的評價
? 肌膚斑與暗沉等肌膚護理關聯的評價
? 吸收、反射、穿透特性的分析
? 光學膜及涂層的不均勻、干涉條紋的測量
? 病理組織的染色狀態的些微差異的解析及量化評價測量(SR-5100HM+顯微鏡)
日本topcon-techno 2D分光輻射計 SR-5100
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測定模式 |
分光模式 |
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光亮采集 |
500萬畫素 彩色CMOS圖像傳感器 |
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對物鏡 |
標準：f=32mm |
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有功像素 |
2448×2048 |
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測定范圍 (*2) |
0.5 – 17,000,000,000 cd/m2 |
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測定波長范圍 |
380～780nm |
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波長精度 (*4) |
±0.5nm *Hg 波寬線上、高精度模式時 |
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光譜波寬 (*5) |
7nm (半波寬) |
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波長分解能力 |
1nm |
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直線性 |
亮度：±2%以內 (*3,*6) |
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面內MURA均勻性 (*10) |
亮度：±2%以內 |
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重復精度 |
SR-5100HWS/SR-5000HM |
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界面 |
USB3.0 / 外部垂直同步信號輸入 |
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電源 |
專用 AC 電源適配器 AC100V-240V, 50/60Hz |
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功率 |
約20W |
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使用條件 |
0 – 35℃、80%R.H.以下(且無凝露) |
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外形尺寸 |
標準：W162×H247×D372.5 mm |
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質量 |
標準：約6.3kg |
