日本napson超高電阻范圍兼容的非接觸式（電暈放電法）薄層電阻測量系統CRN-100

產品特點

• 超高電阻范圍：以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□
• 平面多點測量功能
• 2D / 3D映射圖像顯示
• Windows 7專用軟件
• 測量數據可以CSV文件格式輸出
• 由于是非接觸型，因此可以不受接觸電阻的影響進行測量。

測量規格

測量目標

*通常，可以測量本設備測量范圍內的任何樣品。請聯xi我們。

?超高電阻薄膜樣品（a-Si，IGZO等）

?半導體材料接近絕緣

?導電橡膠

這樣

測量尺寸

尺寸：z大300 x 400毫米

厚度：z大2毫米

*我們可以自定義您的要求，例如尺寸支持。請聯xi我們。

測量范圍

10E + 9?10E + 15Ω/□