IC200MDL635模塊

 IC200MDL635模塊 

用萬能表檢測電路板 
1.離線檢測 
  測出IC芯片各引腳對地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片 
進行比較,從而找到故障點. 
2.在線檢測 
  1)直流電阻的檢測法 
    同離線檢測.但要注意: 
    (a)要斷開待測電路板上的電源; 
    (b)萬能表內部電壓不得大于6V; 
    (c)測量時,要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等. 
  2)直流工作電壓的測量法 
    測得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意： 
    (a)萬能表要有足夠大的內阻,數字表為; 
    (b)各電位器旋到中間位置; 
    (c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上, 
       并應長出筆尖約5mm; 
    (d)當測量值與正常值不相符時,應根據該引腳電壓,對IC芯片正 
       常值有無影響以及其它引腳電壓的相應變化進行分析; 
    (e)IC芯片引腳電壓會受外圍元器件的影響.當外圍有漏電,短路, 
       開路或變質等; 
    (f)IC芯片部分引腳異常時,則從偏離大的入手.先查外圍元器件, 
       若無故障,則IC芯片損壞; 
    (g)對工作時有動態信號的電路板,有無信號IC芯片引腳電壓是不 
       同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞; 
    (h)對多種工作方式的設備,在不同工作方式時IC腳的電壓是不同 
       的. 
  3)交流工作電壓測試法 
    用帶有dB檔的萬能表,對IC進行交流電壓近似值的測量.若沒有dB 
    檔,則可在正表筆串入一只0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用 
    于工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號將受固有頻率,波形不 
    同而不同.所以所測數據為近似值,僅供參考. 
  4)總電流測量法 
    通過測IC電源的總電流,來判別IC的好壞.由于IC內部大多數為直 
    流耦合,IC損壞時(如PN結擊穿或開路)會引起后級飽和與截止,使 
    總電流發生變化.所以測總電流可判斷IC的好壞.在線測得回路電 
    阻上的電壓,即可算出電流值來. 
以上檢測方法,各有利弊.在實際應用中將這些方法結合來運用.運用好了 
就能維修好各種電路板。  

 IC200MDL635模塊 

Allen-Bradley（羅克韋爾），Schneider（施耐德），Siemens（西門子），GE（通用電氣），ABB，
Omron（歐姆龍），IFM（易福門），Emerson（艾默生），Fanuc（發那科），Foxboro（福克斯波羅），
Westinghouse（西屋），Honeywell（霍尼韋爾），Panasonic（松下），Mitsubsihi（三菱），
Beckhoff（倍福），Yaskawa（安川），Pepperl+fuchs（倍加福），B&R（貝加萊），Danfoss（丹佛斯）
，Fuji（富士），Festo（費斯托），Phoenix（菲尼克斯），Koyo（光洋），Yokogawa（橫河），
Heidenhain（海德漢），Hydac（賀德克），Hirschmann（赫斯曼），Keyence（基恩士），Moeller（穆勒），
Kuka（庫卡），Kollmorgen（科爾摩根），Lenze（倫茨），Rosemount（羅斯蒙特），LG，LS（產電），
Rexroth（力士樂），Leuze（勞易測），Norgren（諾冠），Pilz（皮爾茲），Pro-face（普洛菲斯），
SMC，Sanyo（三洋），Delta（臺達），Turck（圖爾克），Sick（施克），Sharp（夏普），Eaton（伊頓）
,bently (本特利）