供應(yīng)Allen-Bradley（羅克韋爾）2711P-B10C4A2 通訊模塊

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工業(yè)電路板維修技巧
不能過分依賴在線測(cè)試儀 
1.功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試 
2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。 
3. 對(duì)數(shù)字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。 
4. 對(duì)于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號(hào)方案的不同的影響，是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù)，要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以，這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果，僅能供參考。 
5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議，在對(duì)于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測(cè)試后，均會(huì)給出“測(cè)試通過”或“測(cè)試不通過”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問題呢？這就是這類測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰€測(cè)試時(shí)，所受影響（干擾）的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施（如斷開晶振，去掉CPU和帶程序的芯片，加隔離中斷信號(hào)等等），這樣做是否均有效，值得研究。至少，目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。 
6. 了解在線測(cè)試儀的讀者，均知道有這么一句行話。“在線測(cè)試時(shí)不通過的芯片不一定是損壞的；測(cè)試通過的芯片一定是沒有損壞的?！彼慕忉尀?，如器件受在線影響或抗干擾時(shí)，結(jié)果可能不通過，對(duì)此不難理解。那么，是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，均會(huì)得出“不通過”呢？回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過，明明芯片已損壞了（確切地說換上這個(gè)芯片板子就不工作了），但測(cè)試結(jié)果是通過的。權(quán)威解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理（后驅(qū)動(dòng)技術(shù)）所致。故此我們不能過分依賴在線測(cè)試儀（盡管各廠家宣傳的很玄）的作用，否則將使維修電路板的工作誤入歧途。 

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 軟件賦能全生命周期的效率提升

  雙碳目標(biāo)下，效率的提升不能只關(guān)注單個(gè)環(huán)節(jié)，產(chǎn)品生產(chǎn)和運(yùn)營(yíng)、維護(hù)等各個(gè)階段均存在巨大的效率提升空間。軟件不僅可以幫助實(shí)現(xiàn)高效的產(chǎn)品和生產(chǎn)設(shè)計(jì)，還能找到現(xiàn)有技術(shù)水平下，資源和能源效率提升的解：通過數(shù)據(jù)化和可視化，企業(yè)可以在產(chǎn)品和生產(chǎn)的各個(gè)階段，識(shí)別效率提升關(guān)鍵點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)從設(shè)計(jì)、建造到運(yùn)營(yíng)、維護(hù)的全生命周期效率提升與可持續(xù)發(fā)展。