美國THORLABS色散測量儀Chromatis

天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷美國THORLABS色散測量儀Chromatis

產品型號：Chromatis

關鍵字：THORLABS色散測量儀Chromatis

關鍵字描述：Chromatis色散測量系統具有光纖耦合的穩定鹵素光源，其有效波長范圍為500至2100 nm。

產品介紹：

用于測量色散的白光干涉儀

穩定鹵素光源的寬帶發射

可安裝?1/2英寸和?1英寸的光學元件

標準測量模式，包含夾具和參考光學元件

0°反射

0° - 70°透射

5° - 70°角度反射

可選反射鏡對夾具

同時測量S偏振和P偏振

包含用于波長自校準的HeNe參考激光器

包含用于空間對準的紅光和綠光二極管激光器

可選兩個用戶可更換的探測器

機架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含電子設備

Chromatis色散測量系統可表征用于飛秒脈沖激光器的反射和透射光學組件的群延遲色散(GDD)特性。超快脈沖在通過光學系統傳播時會變寬；了解每個光學元件引起的GDD并適當補償失真，可以恢復短脈沖寬度。為了獲得高度準確和可靠的結果，Chromatis使用時域白光干涉儀(WLI)來測量GDD。該色散測量系統包含軟件，可指導用戶進行光束對準(條紋優化)、自動找到零延時位置(max.條紋對比)并快速測量色散。

Chromatis色散測量系統具有光纖耦合的穩定鹵素光源，其有效波長范圍為500至2100 nm。該寬帶光源可表征為用于鈦藍寶石、摻鐿光纖和摻鉺光纖激光器的超快光學元件。由于干涉圖是在時域中記錄，因此可以使用單個光電二極管探測器(而不是光譜儀)進行測量，并且內置的HeNe參考激光器可對波長軸進行校準。該系統包括一個波長為500-1100 nm的硅光電二極管。但是，可以很容易地連接InGaAs探測器進行1000-1650 nm波長范圍內的測量。

參數：

色散測量系統（不包括光學和鏡對夾具）

快速表征光學組件中的色散

寬帶光譜范圍：500-2100 nm

GDD測量精度：±5 fs2

反射和透射模式

組成：寬帶、低色散分束器和兩個延遲臂

天津瑞利光電科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之濱天津，地理位置得天獨厚，交通運輸便利，進出口貿易發達。憑借著歐洲的采購中心，我們始終為客戶提供歐美工業技術、高新科技等發達國原裝進口的光電設備、光學儀器、機電設備及配件、電氣成套設備、工業自動化控制設備產品，同時擁有多個品牌的授權經銷和代理權。

（價格僅供參考  商品為進口商品，受匯率 關稅 運費等不確定因素 ，不支持網上訂貨，訂貨前請電話確認價格）