日本HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2

天津瑞利光電科技有限公司優勢經銷日本HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2

產品型號：UVISEL 2

關鍵字：HORIBA光譜橢偏儀UVISEL 2

關鍵字描述：

產品介紹：

HORIBA Scientific發明了新一代科學光譜橢偏儀，可為納米和微米層表征提供高水平的性能。UVISEL 2包括廣泛的集成自動化功能，可用于調查所有材料系列。UVISEL 2具有樣品視覺，并配有自動點選擇功能，可準確定位樣品上的測量點和區域。

UVISEL 2集成了35μm消色差點，能夠覆蓋從FUV到NIR的大光譜范圍，用于測量非常小的樣品區域。在DeltaPsi2軟件的驅動下，UVISEL 2操作簡單，具有表征所有現有材料以及下一代材料和結構的性能。HORIBA Scientific開始使用經過驗證的準確，靈敏的橢偏儀，UVISEL，并重新設計和改進了所有產品，以提供比任何其他儀器更高規格的儀器。

參數：

掃描光譜相位調制橢圓偏振儀：190-880nm

視覺系統：使用橢圓儀頭提供樣品的實時彩色圖像和準確的測量點

計算機控制的微點：

可選擇8種不同的光斑尺寸，以適應樣品的特征尺寸

消色差微光學鏡片，min.35μm

計算機控制的可變角度測角儀：

角度范圍35°- 90°

允許可變角度光譜橢圓測量法

電腦控制的200mm x 200mm XYZ：

用于自動化樣本映射

200mm方形樣品架，附有2個參考樣品

自動Z高度調節：40mm自動對焦

電動樣品傾斜校準：通過激光系統對準樣品

用于紫外 - 可見范圍的雙單色器系統：

190nm - 880nm（雜散光抑制<在190nm處0.5％）

雙PMT探測器具有高的靈敏度和動態范圍

氙氣光源：150 W

近紅外擴展：至2100 nm

NIR系列的單色器：

880nm - 2100nm

InGaAs探測器

計算機和Delta Psi2軟件包：

采集，校準和數據解釋

自動校準

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