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X射線測厚儀鍍層標準片
通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認證，其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標準樣品。
應用：適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、 Beta-ray及磁感式與渦電流等多種原理之各種規(guī)格與尺寸。
特色：標準片A2LA校正認證，質量精良，精度高、穩(wěn)定性好
X-Ray、 Beta-Ray、磁感式、渦電流式專用標準片
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
測厚儀標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如:
單鍍層：Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學鍍層：Ni-P/xx。（所有標準片都附有NIST認證證書）
美國Calmetrics 金屬鍍層標準校正片
每片厚度均通過美國N.I.S.T鑒定機構認證（有證書）
薄片類型：（以下為常規(guī)厚度，上海益朗儀器有限公司www.shylyq.com接受非標定做）
量測成份： |
厚度值（單位：μm） |
ALUMINUM (Al) |
1.00、3.00、5.00、12.5 |
CADMIUM (Cd) |
1.00、2.00、5.00、10.0、15.0 |
CHROMIUM (Cr) |
0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0 |
COBALT (Co) |
0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00 |
COPPER (Cu) |
0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、35.0 |
GOLD (Au) |
0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
IRON (Fe) |
2.00、6.00 |
LEAD (Pb) |
0.25、1.00、2.00、4.00、9.00 |
NICKEL (Ni) |
0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、2.50、3.00、5.00、8.00、10.0、20.0、27.5 |
NICKEL-PHOSPHORUS (Ni-P, 8% P) |
2.50、6.00、9.00、18.0 |
PALLADIUM (Pd) |
0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
PLATINUM (Pt) |
0.50、1.00 |
SILVER (Ag) |
0.10、0.25、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、30.0 |
SOLDER (Sn-Pb) |
5.00、6.00、10.0、14.0（60%Sn）5.00、6.00、14.0（90%Sn） |
TIN (Sn) |
0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、40.0、60.0 |
TITANIUM (Ti) |
0.50、1.00、5.00、10.0 |
ZINC (Zn) |
2.50、10.0、20.0 |
