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梅特勒-托利多XP2U超微量分析天平
梅特勒-托利多XP2U是一臺創新的超微量天平：提供卓越的稱量性能，用戶友好界面和質量標準。XP2U超微量天平具有21,000,000的至高分辯率。SmartScreen彩色觸摸屏、可設置的顯示界面、智能用戶向導、以及無需用手接觸的SmartSens紅外感應器控制的防風罩，使這種高精度天平比以往更快、更容易、和更高效。
XP2U超微量分析天平描述
標準配置 |
內置QA特點 |
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XP2U超微量分析天平
產品參數：
規格 - XP2U超微量天平
Material Number(s) |
11122430 |
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Trade Name |
Opulino |
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極限值 |
XP2U |
最大稱量值 |
2.1 g |
可讀性 |
0.0001 mg |
重復性(sd) - 加載處 |
0.00025 mg |
- 低加載（加載處） |
0.0002 mg (0.2 g) |
線性誤差 |
0.001 mg |
靈敏度漂移 |
1.5 x 10-5 |
靈敏度溫度漂移 2) |
0.0001 %/°C |
靈敏度穩定性 3) |
0.0001 %/a |
典型值 4) |
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典型重復性（sd） |
0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr |
典型微分非線性（sd） |
√8x(10-14) · g · R_nt |
典型靈敏度偏移（sd）2) |
3x(10-6)· R_nt |
典型最小稱量值*（符合USP） |
0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr |
典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) |
0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr |
典型穩定時間 |
< 10 s |
1) 根據OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內
3) 第一次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年
* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。
