奧林巴斯高頻接觸探頭V212-BA-RM

高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產生等于或 高于20 MHz的頻率。

奧林巴斯高頻探頭V212-BA-RM優勢：

•  強阻尼寬帶設計提供了極佳的時間分辨率。

•  短波長可獲得極強的缺陷分辨率能力。

•  直徑極小的聲束也可以聚焦。

•  頻率范圍為20 MHz到225  MHz。

奧林巴斯高頻探頭V212-BA-RM應用：

•  高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。

•  表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

•  可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。

•  可對陶瓷及高級工程材料進行檢測。

•  可對材料進行分析。

*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設置。

奧林巴斯高頻接觸式V212-BA-RM

•  使用直接接觸檢測法時，利用永久熔融石英延遲塊可進行缺陷評 價、材料分析或厚度測量。

•  3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波 的組合。

•  其標準連接器類型為直角Microdot（RM）。

若需要更高頻率的探頭，請與我們聯系。