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工業應用顯微鏡 Leica DMI3000 M顯微鏡

公司基本資料信息

產品詳細說明

純手動的倒置研究級的工業應用顯微鏡Leica DMI3000 M

徠卡 DMI3000 M 倒置式手動版研究級顯微鏡適用于材料科學，工業質量觀察和保障，以及新產品的研發,使用非常方便.

設備上直觀地設置了控制按鍵,便于每天大量的觀察和培訓工作高效率地進行開展.

萬用型的徠卡 DMI3000 M 可提供完善的專業配置來滿足特殊客戶的應用與需求.


適合難以評估的樣品標配的斜光照明為那些難以評估的樣品提供了理想的解決之道 – 獲得試樣的近似微分干涉的浮雕表面形貌感覺并且可以判斷出那些在普通明場和暗場條件下無法看見的缺陷。	反射光光軸反射光光軸提供了明亮的視野,優良的景深,精細的分辨率—整體顯微鏡達到復消色差高清晰光學圖像質量。

便利的反襯模式光學系統可以輕而易舉的增添反襯米模式,比如暗場,微分干涉(DIC)。	獲取全景觀察 1.25倍低倍物鏡是觀察較大試樣全貌的理想選擇。

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適合難以評估的樣品標配的斜光照明為那些難以評估的樣品提供了理想的解決之道 – 獲得試樣的近似微分干涉的浮雕表面形貌感覺并且可以判斷出那些在普通明場和暗場條件下無法看見的缺陷。	反射光光軸反射光光軸提供了明亮的視野,優良的景深,精細的分辨率—整體顯微鏡達到復消色差高清晰光學圖像質量。

便利的反襯模式光學系統可以輕而易舉的增添反襯米模式,比如暗場,微分干涉(DIC)。	獲取全景觀察 1.25倍低倍物鏡是觀察較大試樣全貌的理想選擇。