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可對(duì)離子遷移絕緣電阻值進(jìn)行高精度、高信賴(lài)性、高效率的評(píng)價(jià)。
從當(dāng)今的地球、市場(chǎng)環(huán)境來(lái)看，省能源、鉛/無(wú)鹵素、小型輕量、低價(jià)、高依賴(lài)等觀點(diǎn)出來(lái)的，新素材、新實(shí)裝方法的研究開(kāi)發(fā)、評(píng)價(jià)方法的重估是必須的。
簡(jiǎn)介：離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種依賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE），經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1~1000小時(shí)）并觀察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION），并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是OPEN/SHORT試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。
