采礦業在支持全球的個人與企業的能源消費中起到了關鍵作用。工業生產中先進技術的運用是高效使用自然資源的基礎，如鐵、銅及鉑族金屬的開采。蔡司分析顯微解決方案為采礦業提供大量礦物學信息，以提高自然資源的開采量和利用率。

通常以高噸位方式開采露天鐵礦。雖然由相對含量高的赤鐵礦和磁鐵礦組成的部分礦床可以直接出售給客戶，但絕大多數均為含有鐵礦與脈石的混雜物。因此，在粒化前需要對這些礦床中的鐵礦進行分類和集中。 在礦物分類和微米級關聯觀察應用中，光學顯微鏡分析解決方案能為采礦業提供詳實的礦物學信息。Axio Imager 2 的透射光和反射光偏光顯微技術使其成為礦物分類的理想之選。借助電動載物臺和 ‘Shuttle & Find’ 功能，Axio Imager 2 還可以與電子顯微鏡組合使用進行關聯顯微檢測。在電子顯微技術中，EVO 常規掃描電子顯微鏡結合蔡司高級礦物分析軟件能夠實現礦物的全自動量化和化學分類。高靈敏度的背散射電子探測可僅通過灰度來區分赤鐵礦和磁鐵礦。

銅礦床的描述與分類涵蓋識別礦物、定量及礦物間紋理關系的測定。經驗豐富的巖相學家會使用光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡結合 EDX 來完成這三項任務。在礦物分類和微米級關聯觀察應用中，光學顯微鏡分析解決方案能為銅礦業提供詳實的礦物學信息。Axio Imager 2 的透射光和反射光偏光顯微技術使其成為礦物分類的理想之選。借助電動載物臺和 ‘Shuttle & Find’ 功能，Axio Imager 2 還可以與電子顯微鏡組合使用進行關聯顯微檢測。在電子顯微技術中，EVO 常規掃描電子顯微鏡結合蔡司高級礦物分析軟件能夠實現銅礦的全自動量化和化學分類。

為提高礦場的生產性能，使用 SEM EDS對礦石原料進行礦物分析顯得日益重要。但由于鉑族金屬（PGM）的顆粒尺寸小，對基于標準 SEM-EDS 的自動礦物分析系統而言，可靠的 PGM 已飽受考驗。當脈石相接近亞微米級 PGM 顆粒時會產生混合的X射線光譜，導致對元素分析更為復雜。PGM 樣品經常以固溶體形式出現，致使辨別更加復雜。用于掃描電子顯微鏡的蔡司 SmartPI Identiplat™ 能夠充分利用光譜性能在 PGM 礦石中表征各種礦物。這些不受混合光譜影響的獨特性質可用于在原始光譜數據中辨識 PGM。SmartPI 報告記錄解離度、顆粒大小和賦存狀態，以提供信息對采礦現場的磨礦和浮選流程進行監測、優化及排障。

鉆石勘探面臨的挑戰之一是在金伯利巖礦物勘探中對數以百計的樣品進行耗時分析。鉆石搜尋始于從地面或河流中收集巖石樣品，并對其中的石榴石、橄欖石和地殼捕虜巖進行成份分析。通過表面指示礦物的分布來推斷含鉆石金伯利巖的位置。金伯利巖勘探中的主要礦物是含名義成份 Mg3(Ca,Cr2)Si3O12 的石榴石。借助 SEM（掃描電子顯微鏡）和 EDS（X 射線能譜儀）對每個石榴石晶體進行元素分析，為現場樣品的組份建立定量模型。鎂和鉻元素的特定比例可用于指示金鉑利巖中蘊藏鉆石潛在性。需要處理數百件收集的巖石于提供統計分析，這是一項既耗時且高重復的工作。 用于掃描電子顯微鏡的蔡司 SmartPI 是一款性能強大的顆粒度分析工具，通過自動分析提供客觀數據，大大節省含鉆石的金伯利巖的搜尋時間。