FTB-5240B 光譜分析儀
隨著通信網(wǎng)絡(luò)的交錯(cuò)使用日益增加，需要設(shè)計(jì)相應(yīng)功效的測(cè)試設(shè)備來面對(duì)DWDM的挑戰(zhàn)。無論測(cè)試是在生產(chǎn)制造、安裝和網(wǎng)絡(luò)光纖投入使用，還是管理、維護(hù)和單元組件性能的故障發(fā)現(xiàn)及處理，EXFO的FTB-5240和FTB-5240B光譜分析儀（OSA）能夠處理任何情況。
此外，在業(yè)界FTB-5240B光譜分析儀具有優(yōu)越的性能：在目前工藝水平上，具有實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)的無比優(yōu)越的性能、測(cè)試模塊能夠快速、精確和有效的進(jìn)行光纖測(cè)試。
※有效的DWDM測(cè)試：FTB-5240光譜分析儀具有出色的光反射率（ORR）、分辨率帶寬、波長(zhǎng)范圍和動(dòng)態(tài)范圍，從而保證其靈活性和功效。FTB-5240B光譜分析儀擁有更為突出的ORR和高分辨率，已經(jīng)為下一代的超密集波分復(fù)用裝置做好了準(zhǔn)備。
※? 簡(jiǎn)單的操作：EXFO的OSA光譜分析儀獨(dú)有的基于Windows2000界面，單鍵操作更方便。通過簡(jiǎn)易、直觀的觸摸屏完成自動(dòng)功能的訪問。圖形用戶界面通過菜單和功能鍵提供簡(jiǎn)單的訪問操作。
※? 便攜耐用：模塊被固定在堅(jiān)固、輕便的機(jī)殼內(nèi)，并且裝有對(duì)FTB-400綜合測(cè)試系統(tǒng)起緩沖作用的橡膠墊，所以EXFO的光譜分析儀能夠承受現(xiàn)場(chǎng)的撞擊或是從實(shí)驗(yàn)室工作臺(tái)上摔落的碰撞。
※? 一流的光反射率選件：新一代的FTB-5240B選件擁有上佳的ORR，從而可以提供非匹配的精確的光信噪比測(cè)試：0.1nm處達(dá)到40dBc、0.2nm處達(dá)到50dBc、0.4nm處達(dá)到55dbc。
※? 內(nèi)部校準(zhǔn)：新一代的FTB-5240B裝有內(nèi)部參考光源來維持在C-和L-波段的波長(zhǎng)精度為±30pm。
※? 外部校準(zhǔn)：在測(cè)試前，使用外部光源對(duì)您的OSA重新校準(zhǔn)可以在C-和L-波段
FTB-5240 FTB-5240B
光譜測(cè)試
波長(zhǎng)范圍（nm） 1250~1650 1250~1650
分辨率帶寬FWHM2。3（nm） 0.065 0.033
波長(zhǎng)精度3。8（nm） ±0.05
±0.0154 ±0.03
±0.0154
波長(zhǎng)重復(fù)性5（nm） ±0.003 ±0.003
波長(zhǎng)線性度3（nm） ±0.01 ±0.01
幅值測(cè)試
動(dòng)態(tài)范圍3（dBm） +186~-757 +186~-757
功率精度9（dB） ±0.4 ±0.4
掃描時(shí)間（s） <1.5（35nm掃描，完全分辨率、多峰值分析）
光回?fù)p（dB） >35 >35
