JDSU MAP 光學測試平臺 MAPA+23

JDSU MAP 光學測試平臺 MAPA+23 Multiple Application Platform

一套系統實現了密集多通道的波長和功率精度可調可變的光源+光功率+光衰減+光開關自

動控制高效測試。
現貨提供多功能光測試平臺模塊MAP。

 JDSU多應用平臺（MAP-200）是一個光學測試和測量平臺，是光傳輸網絡設備的研發和生

產測試的專用工具。當今瞬息萬變的光通訊產品市場，需要在能夠提高生產率的技術和工

具上進行投資，而即使在最嚴格的環境下，MAP-200可擴展測試平臺也是最合適之選。

基于上一代多應用平臺（MAP），新MAP-200的不同之處在于將更多的模塊組合放在了這個

最密集和最具有可配置性的平臺上。無論是對于研發實驗室，還是產品生產線，MAP-200

都是測試工具的最優選擇，功能涵蓋從插入損耗測試到色散代價測試。

應用
能夠對光纖收發器和光纖收發組件進行測試
允許全面的無源/有源器件，激光以及放大器測試
便于10G和40G系統和子系統測試
MAP寬帶光源
MAP摻鉺光纖放大器
MAP法布里-珀羅激光
MAP大信道計數轉換器
MAP發光二極管光源
MAP Insertion Loss and Return Loss Test Modules
MAP偏振控制器
MAP光功率計
MAP小信道計數轉換器
MAP Swept Wavelength Test System
MAP可調節過濾器
MAP實用程序
MAP可變反射器
MAP可變光衰減器
MAP可調諧分布反射（DBR）激光器