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日本島津微焦點X射線透視檢查裝置
型號：SMX-1000 Plus / SMX-1000L Plus
? ?東莞市景瀚實業有限公司專營日本島津XRAY檢測機，CT檢測機的回收，出售，出租，維修，培訓等業務，提供原廠級服務，歡迎來電咨詢XRAY檢測機租賃等相關業務。
? ?X 射線管包含有陽極和陰極兩個電極，分別用于用于接受電子轟擊的靶材和發射電子的燈絲。兩級均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內。
X射線檢測技術已經發展成為最主要的光學檢測技術之一。在光學中，X射線與自然光都是電磁波，但X射線的光量子的能量遠大于可見光。它可以穿透可見光不能穿透的物體，而且在穿透物體的同時將和物質發生復雜的物理和化學作用，可以使原子發生電離，甚至可以使某些物質產生光化學反應。根據光的原理，如果工件局部區域存在缺陷，它將改變物體對射線的衰減，引起透射射線強度的變化。
日本SHIMADZU SMX-1000 PLUS / SMX-1000L PLUS采用FPD(數字式平板檢出器)和密閉式微焦點X射線管球，可以得到沒有變形和重影的清晰的透視圖像。另外，設備操作軟件在指定檢查樣品種類后就可自動設定檢查條件，通過簡單操作就可高效地完成作業。設備上的CCD相機可拍攝樣品實物圖片，從而實現導航功能、步進功能、教學功能、圖像數據功能以及各種測量功能。
SMX-1000 Plus / SMX-1000L Plus是將使用性和功能提升到極致的Ｘ射線檢查裝置
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原來的SMX-1000 Plus / SMX-1000L Plus是業界檢查機器的參照系，現在我們在此基礎上開發出了更加簡潔的X射線檢查裝置SMX-1000 Plus / SMX-1000L Plus。新機型將過去備受好評的操作性能進行了進一步提升，并使操作界面更加簡潔易懂，增大的透視圖像和外觀圖像提高了圖像的易讀性。 新系統大幅度地簡化了測量功能，通過無須復雜參數設定的一鍵式操作即可得到測量結果；除在外觀圖像上可實施導航、步進、教學（Teaching）、圖像一覽顯示等豐富的功能外，又增加了突出關心區域顯示等的新功能。 |
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SMX-1000 Plus / SMX-1000L Plus可通過非破壞的方式，在高放大倍數下透視檢查高密度實裝基板或BGA·CSP·系統LSI的超細微部的連接狀態(斷線·接觸)。
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●?進一步提高操作性 界面布局全面改良，更加簡潔、易懂，圖像加大，可比老機型更加直接地完成作業。 |
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●?清晰的圖像 秉承老機型的優勢，用平板接收器結合我司的圖像處理技術得到沒有變形的清晰圖像。 |
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●?傾斜透視 從傾斜方向進行透視，能夠發現垂直透視不能發現的不良點。 |
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●?簡單的測量 我們運用自發研制的圖像處理技術，將原來設定繁瑣的測量參數進行自動最優化處理，一鍵操作即可獲得測量結果。 |
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· 檢查條件的預設功能
由于拍攝的圖像具有豐富的動態信息，所以系統在不改變X射線條件下，從檢查條件一覽中挑選適合的設定，就能立刻看到希望觀察部位（材質）的最優圖像。
· 用外觀CCD定位
通過可拍攝載物臺全區域的CCD相機，指定載物臺的位置，簡單操作即可將載物臺瞬間移動到想觀察位置。
· 在實時圖像上定位（只限鼠標操作）
僅使用鼠標就能完成所有操作，這樣使操作人員可在視線不離開顯示器的狀態下集中精力完成檢查作業。另外，新系統也可將鼠標點擊點移動到顯示器中心的「中心移動」功能。
· 步進功能
步進功能，是等間距順序移動載物臺進行檢查的功能。此功能對可排列在托盤等上的相同形狀的樣品的檢查尤其高效。
· 教學（teaching）功能
教學（teaching）功能是使載物臺移動到預先登錄的檢查點進行檢查的功能。對于同種類樣品的大量檢查，登錄檢查點后，可快速移動載物臺，進行高效的檢查。
· 圖像一覽功能
保存的圖像可按文件夾進行縮略顯示。本裝置的縮略圖顯示具備下列豐富的功能給操作人員強大支持。
· 尺寸測量
包括2點間距離，角度、曲率的測量。以前需要對每幅圖像進行尺寸校準，現在系統將其與放大倍數聯動，校準數據自動計算，可高效實現尺寸測量。
· BGA氣泡率測量
臨界值值設定后，點擊測量圖標，系統自動測量圖像上顯示出所有空洞。系統還可根據預先設定的標準自動判斷合格與否，而且測量結果還可以CSV格式保存。
· 面積比率測量
用于測量焊接或焊盤上錫膏的浸潤比率等。系統對指定ROI(用戶指定區域)內的目標面積的比率進行測量。面積比率是指目標面積/ROI面積的值。
· 金線曲率測量
確定金線兩端和最大曲率點位置，系統據此能夠計算出金線的曲率。此測量結果也可以CSV格式保存。
●?VCT組件
通過此組件（裝卸式）能夠容易獲得清晰的CONE CT圖像。?
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VCT組件 |
電容的MPR圖像 |
● 旋轉傾斜組件
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使用此組件能夠從各個方向對小樣品進行觀察，消除觀察死角。 |
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● 操作盒
此選件用操作桿和按鍵組合，手動控制載物臺移動、圖像放大、縮小以及對旋轉傾斜組件上樣品的旋轉傾斜。
?※對于設備外觀和規格的變更，恕不另行通知。
