掃描電化學顯微系統（SECM）
交流掃描電化學顯微鏡系統（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統（ic-SECM）
微區電化學阻抗測試系統(LEIS)
掃描振動點擊測試系統（SVET）
電解液微滴掃描系統（SDS）
交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）
掃描開爾文探針測試系統（SKP）
非觸式微區形貌測試系統（OSP）
M470是由Uniscan儀器開發的第四代掃描探針系統，具有更高規格和更多探針技術。
更多有關微區掃描電化學工作站的資訊，請登錄http://www.dhsi.com.cn/。
