超聲波測厚儀 45MG

 超聲波測厚儀 45MG

 超聲波測厚儀 45MG標(biāo)準(zhǔn)功能: 
45MG儀器在使用基本配置時，是一款易懂易學(xué)、操作簡便的測厚儀，操作人員經(jīng)過最基本的培訓(xùn)，就可完成最常用的測厚應(yīng)用。不過，45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后，就會變成一款極為高級的測厚儀，可以進(jìn)行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買，或在日后需要時購買。
•與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測量 
•最小值/最大值模式 
•兩個報警模式 
•差值模式 
•時基B掃描 
•縮減率 
•增益調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)、高、低） 
•密碼式儀器鎖定 
 超聲波測厚儀 45MG可選功能: 
只需幾次按鍵，即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途最廣泛的測厚儀行列。
•回波到回波/穿透涂層：使用回波到回波選項，儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度，而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測量時，無需去掉材料表面的漆層或涂層。
•單晶： 這個選項可對很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。單晶高穿透：這個選項可對較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
•數(shù)據(jù)記錄器：45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。
•帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描： 用戶使用這個可選實時A掃描模式，可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測量讀數(shù)，對增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中最大限度地增強(qiáng)測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、首個回波空白、范圍及延遲參數(shù)。 
測量
雙晶探頭測量模式
從激勵脈沖后的精確延遲到第一個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波（可選）
在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量 （可選）
利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭）
單晶探頭測量模式（可選）
模式1：激勵脈沖與第一個底面回波之間的時間間隔。 
模式2：延遲塊回波與第一個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 
模式3：在激勵脈沖之后，位于第一個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。

厚度范圍
0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量最全的范圍需要使用單晶選項）
材料聲速范圍
0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可選擇）
低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 
標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 
單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸）
探頭頻率范圍
標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
抵御惡劣環(huán)境的能力 
•堅固耐用，設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 
•爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了***標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測試。 
•防撞擊測試：通過了***標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。 
•防振動測試：通過了***標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。 
•寬泛的操作溫度范圍 
•可選的帶有支架的橡膠保護(hù)套
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