- 產品
- 供應
- 公司
- 新聞
|
|
||||||||||||||||||||||||||||
儀器由德國生產，集合了磁性測厚儀和渦流測厚儀兩種儀器的功能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如：
* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度；
* 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度；
* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度；
* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度；
* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度；
儀器符合國家標準GB/T4956和GB/T4957，可用于生產檢驗、驗收檢驗及質量監督檢驗。
兩用型 儀器特點
* 采用雙功能內置式探頭，自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式進行精確測量。
* 符合人體工程學設計的雙顯示屏結構，可以在任何測量位置讀取測量數據。
* 采用手機菜單式功能選擇方式，操作十分簡便。
* 可設定上下限值，測量結果超出或符合上下限數值時，儀器會發出相應的聲音或閃爍*燈提示。
* 穩定性極高，通常不必校正便可長期使用。
兩用型 技術規格
* 量 程： 0～2000μm ,
* 電 源： 兩節5號電池
標準配置
常規型
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating）。
覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環，是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用最廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。
CMI257產品技術參數
黑色金屬: 0-3500 μm / 0-140 m il
有色金屬: 0-3000 μm / 0-120 mil
1 μm @ 0-1000 μm
2 μm @ 1000-2500 μm
5 μm @ 2500-3000 μm
0.1 mil @ 0-100 mil
0.2 mil @ 100-140 mil
110 mm x 50 mm x 25 mm
4.3” x 2” x 1”
24 mm Ø x 47 mm
1” Ø x 1.8”
凸半徑 5 mm / 0.2“
凹半徑 50 mm / 2”
間隙 50 mm / 2“
探針
繩型
厚度范圍
精度
± 2 μm (0.08 mil) or ± 2% 以較大為準
分辨率
機身尺寸
CMI257探針尺寸
重量
140 g (5.0 oz)
電池
2 x AAA
保護
IP52 (灰塵和水滴)
最小樣品尺寸
測量范圍
10 mm x 10 mm / 0.4” x 0.4”
CMI257的兩用型涂鍍層厚度測量儀器將為您提供對鋼、鐵、鋁和其他金屬基體上的保護及裝飾涂層的高可靠型測試。CMI255和CMI257的數據統計功能可讓您評估一系列測量結果，且還能計算基體中的變化，是專為一下情況設計的保證高質量的測試工具。
→ 油漆&粉末涂料制造和使用商
→ 電鍍廠
→ 電鍍用戶
→ 涂層質檢員
→ 汽車及航天部件涂鍍層
這些小巧的手持儀器經工廠校準，自動篩選適于基材的最佳測量工藝。該一起的均為耐久性設計，擁有橡膠外殼且符合IP52環境保護的標準，能在惡劣的環境下使用。
CMI257獨有的繩型探針可以在難以到達的位置進行測量。
