1786-CTK/B

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近場(chǎng)測(cè)量是可用于EMI排查的一種測(cè)量，因?yàn)樗灰鬁y(cè)試站點(diǎn)提供專門的條件就能讓你查出能量源。然而，一致性測(cè)試是在遠(yuǎn)場(chǎng)中進(jìn)行的，而不是近場(chǎng)。你通常不會(huì)使用遠(yuǎn)場(chǎng)，因?yàn)橛刑嗟淖兞孔屗兊脧?fù)雜起來：遠(yuǎn)場(chǎng)信號(hào)的強(qiáng)度不僅取決于源的強(qiáng)度，而且取決于輻射機(jī)制以及可能采取的屏蔽或?yàn)V波措施。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)需要記住，如果你能觀察遠(yuǎn)場(chǎng)中的信號(hào)，那么應(yīng)該能看到近場(chǎng)中的相同信號(hào)。（然而，能觀察到近場(chǎng)中的信號(hào)而看不到遠(yuǎn)場(chǎng)中的相同信號(hào)是很可能的）

近場(chǎng)探針實(shí)際上就是設(shè)計(jì)用于拾取磁場(chǎng)（H場(chǎng)）或電場(chǎng)（E場(chǎng)）變化的天線。一般來說，近場(chǎng)探針沒有校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，因此它們適合用于相對(duì)測(cè)量。如果你對(duì)用于測(cè)量H場(chǎng)和E場(chǎng)變化的探針不熟悉，那么最好了解一些近場(chǎng)探針設(shè)計(jì)和最佳使用方法：

H場(chǎng)（磁場(chǎng)）探針具有獨(dú)特的環(huán)路設(shè)計(jì)，如圖8所示。重要的是，H場(chǎng)探針的方向是有利于環(huán)路平面與待測(cè)導(dǎo)體保持一致的，這樣布置的環(huán)路可以使磁通量線直接穿過環(huán)路。

圖8：將H場(chǎng)探針與電流流向保持一致可以使磁場(chǎng)線直接穿過環(huán)路。

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