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清潔度檢測
橡膠密封圈清潔度檢測
清潔度檢測,清潔度檢驗,清潔度鑒定
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簡單的描述：清潔度的定義指的是產(chǎn)品的潔凈程度。
從宏觀角度來描述：清潔度指的是產(chǎn)品表面殘留微小顆粒物的程度。一般我們是通過顆粒物的尺寸、數(shù)量、重量來衡量樣品被污染的程度。
從微觀的角度來描述：清潔度指的是產(chǎn)品表面殘留的陰陽離子的多少。一般我們是通過單位面積含量某種離子的質(zhì)量或單位面積總離子的等效質(zhì)量來表征。
測試目的：通過標準的方法來驗證產(chǎn)品的清潔度是否符合相關(guān)行業(yè)的限值要求。
測試意義：對于精密零部件，產(chǎn)品表面殘留的微小顆粒物超出規(guī)定的限值會直接影響產(chǎn)品在裝配時的緊密度，并且使產(chǎn)品的磨損老化加速；對于電子組裝線路板，表面殘留的離子含量過多會導(dǎo)致產(chǎn)品在長期使用中的電器安全，可能會由于離子遷移產(chǎn)生電化學(xué)漏電現(xiàn)象，而導(dǎo)致產(chǎn)品損壞。
適用產(chǎn)品范圍：精密零部件，電子線路板，組裝電子線路板。
測試原理：顆粒物清潔度主要是先通過萃取表面顆粒物，然后再使用顆粒物統(tǒng)計軟件記錄數(shù)量及最大尺寸，使用分析天平記錄殘留物重量。離子殘留清潔度主要是根據(jù)IC離子色譜法進行測試。
參考要求：IPC-TM650-2.3.28電路板離子分析，離子色譜法；ISO16232-10顯微分析方法統(tǒng)計顆粒物尺寸及數(shù)量；IPC-TM-650 2.3.25 (C 版本2001-2)溶劑萃取的電阻率法樣品要求。
測試結(jié)果示例（顆粒物清潔度）：
殘留物重量:5.5mg
顆粒范圍 |
結(jié)果(等級/數(shù)量) |
200μm ≤顆粒物直徑＜400μm |
H/32 |
400μm ≤顆粒物直徑＜600μm |
I/7 |
600μm ≤顆粒物直徑＜1000μm |
J/2 |
1mm≤顆粒物直徑＜2mm |
K1/1 |
顆粒物直徑≥2mm |
K2/1 |
顆粒總數(shù)＞200μm |
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