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簡(jiǎn)單的描述:清潔度的定義指的是產(chǎn)品的潔凈程度。
從宏觀角度來描述:清潔度指的是產(chǎn)品表面殘留微小顆粒物的程度。一般我們是通過顆粒物的尺寸、數(shù)量、重量來衡量樣品被污染的程度。
從微觀的角度來描述:清潔度指的是產(chǎn)品表面殘留的陰陽離子的多少。一般我們是通過單位面積含量某種離子的質(zhì)量或單位面積總離子的等效質(zhì)量來表征。
測(cè)試目的:通過標(biāo)準(zhǔn)的方法來驗(yàn)證產(chǎn)品的清潔度是否符合相關(guān)行業(yè)的限值要求。
測(cè)試意義:對(duì)于精密零部件,產(chǎn)品表面殘留的微小顆粒物超出規(guī)定的限值會(huì)直接影響產(chǎn)品在裝配時(shí)的緊密度,并且使產(chǎn)品的磨損老化加速;對(duì)于電子組裝線路板,表面殘留的離子含量過多會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中的電器安全,可能會(huì)由于離子遷移產(chǎn)生電化學(xué)漏電現(xiàn)象,而導(dǎo)致產(chǎn)品損壞。
適用產(chǎn)品范圍:精密零部件,電子線路板,組裝電子線路板。
測(cè)試原理:顆粒物清潔度主要是先通過萃取表面顆粒物,然后再使用顆粒物統(tǒng)計(jì)軟件記錄數(shù)量及最大尺寸,使用分析天平記錄殘留物重量。離子殘留清潔度主要是根據(jù)IC離子色譜法進(jìn)行測(cè)試。
參考要求:IPC-TM650-2.3.28電路板離子分析,離子色譜法;ISO16232-10顯微分析方法統(tǒng)計(jì)顆粒物尺寸及數(shù)量;IPC-TM-650 2.3.25 (C 版本2001-2)溶劑萃取的電阻率法樣品要求。